Kernel driver ltc4282

LTC4282 고전력 핫스왑과 이중 게이트 구동

GPL-2.0-only 문서의 Analog Devices LTC4282는 `ltc4282` 접두사를 사용합니다. 7비트 I2C 주소 범위는 `0x40-0x5A`, 8비트 표기는 `0x80-0xB4`에서 2씩 증가하며 저자는 Nuno Sá입니다.

외부 N채널 패스 트랜지스터 하나 이상으로 보드 전압과 돌입 전류를 조정 가능한 속도로 상승시킵니다. I2C와 온보드 ADC가 전류, 전압, 전력, 에너지, 오류 상태를 감시하며 2.9-33 V 응용을 위한 아날로그 폴드백 전류 제한과 공급 전압 감시를 제공합니다.

듀얼 12 V 게이트 구동은 병렬 MOSFET 사이에서 안전 동작 영역을 나누거나, 먼저 부하 커패시턴스를 충전한 뒤 낮은 온저항 경로를 켜는 2단계 기동을 지원합니다. 비휘발성 설정으로 경보 생성과 오류 대응을 자율적으로 구성할 수 있습니다.

.. SPDX-License-Identifier: GPL-2.0-only

Kernel drivers ltc4282
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Supported chips:

  * Analog Devices LTC4282

    Prefix: 'ltc4282'

    Addresses scanned: - I2C 0x40 - 0x5A (7-bit)
    Addresses scanned: - I2C 0x80 - 0xB4 with a step of 2 (8-bit)

    Datasheet:

        https://www.analog.com/media/en/technical-documentation/data-sheets/ltc4282.pdf

Author: Nuno Sá <[email protected]>

Description
___________

The LTC4282 hot swap controller allows a board to be safely inserted and removed
from a live backplane. Using one or more external N-channel pass transistors,
board supply voltage and inrush current are ramped up at an adjustable rate. An
I2C interface and onboard ADC allows for monitoring of board current, voltage,
power, energy and fault status. The device features analog foldback current
limiting and supply monitoring for applications from 2.9V to 33V. Dual 12V gate
drive allows high power applications to either share safe operating area across
parallel MOSFETs or support a 2-stage start-up that first charges the load
capacitance followed by enabling a low on-resistance path to the load. The
LTC4282 is well suited to high power applications because the precise monitoring
capability and accurate current limiting reduce the extremes in which both loads
and power supplies must safely operate. Non-volatile configuration allows for
flexibility in the autonomous generation of alerts and response to faults.

Sysfs entries
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The following attributes are supported. Limits are read-write and all the other
attributes are read-only. Note that in0 and in1 are mutually exclusive. Enabling

상호 배타적 전압·전류·전력·에너지 속성

한계는 읽고 쓸 수 있고 그 밖의 속성은 읽기 전용입니다. `in0`과 `in1`은 상호 배타적이어서 하나를 활성화하면 다른 하나가 비활성화되고, 하나를 끄면 다른 하나가 활성화됩니다.

`in0`은 VSOURCE 출력 전압으로 현재값, min/max 한계, 최저·최고 이력, 알람, enable, MOSFET bad/short fault를 제공합니다. `in0_reset_history`에 1을 쓰면 전압 이력과 FET bad·short 오류 로그를 함께 지웁니다. `in1`은 VDD 입력 전압으로 같은 측정·한계·이력 외에 임계 저전압·과전압 알람을 제공하며 reset은 해당 오류 로그도 지웁니다.

`in2`는 VGPIO 전압과 min/max, 최저·최고, 알람, 이력 초기화를 제공합니다. `curr1`은 ISENSE 전류의 부족·과전류 한계, 최저·최고, 일반 및 임계 과전류 알람을 제공하고 reset 시 과전류 오류 로그도 지웁니다.

`power1`은 μW 단위 전력, 저·고전력 한계, 최저·최고 사용 이력, 알람과 reset을 제공하며 reset 시 power bad 로그도 지웁니다. `energy1_input`은 시간에 따른 누적 에너지를 microJoule로 보고하고 `energy1_enable`로 에너지 누적을 켜거나 끕니다.

one disables the other and disabling one enables the other.

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in0_input                Output voltage (mV).
in0_min                        Undervoltage threshold
in0_max                 Overvoltage threshold
in0_lowest                Lowest measured voltage
in0_highest                Highest measured voltage
in0_reset_history        Write 1 to reset in0 history.
                        Also clears fet bad and short fault logs.
in0_min_alarm                Undervoltage alarm
in0_max_alarm           Overvoltage alarm
in0_enable                Enable/Disable VSOURCE monitoring
in0_fault                Failure in the MOSFETs. Either bad or shorted FET.
in0_label                Channel label (VSOURCE)

in1_input                Input voltage (mV).
in1_min                        Undervoltage threshold
in1_max                 Overvoltage threshold
in1_lowest                Lowest measured voltage
in1_highest                Highest measured voltage
in1_reset_history        Write 1 to reset in1 history.
                        Also clears over/undervoltage fault logs.
in1_min_alarm                Undervoltage alarm
in1_max_alarm           Overvoltage alarm
in1_lcrit_alarm         Critical Undervoltage alarm
in1_crit_alarm          Critical Overvoltage alarm
in1_enable                Enable/Disable VDD monitoring
in1_label                Channel label (VDD)

in2_input                GPIO voltage (mV)
in2_min                        Undervoltage threshold
in2_max                        Overvoltage threshold
in2_lowest                Lowest measured voltage
in2_highest                Highest measured voltage
in2_reset_history        Write 1 to reset in2 history
in2_min_alarm                Undervoltage alarm
in2_max_alarm                Overvoltage alarm
in2_label                Channel label (VGPIO)

curr1_input                Sense current (mA)
curr1_min                Undercurrent threshold
curr1_max                Overcurrent threshold
curr1_lowest                Lowest measured current
curr1_highest                Highest measured current
curr1_reset_history        Write 1 to reset curr1 history.
                        Also clears overcurrent fault logs.
curr1_min_alarm                Undercurrent alarm
curr1_max_alarm                Overcurrent alarm
curr1_crit_alarm        Critical Overcurrent alarm
curr1_label                Channel label (ISENSE)

power1_input                Power (in uW)
power1_min                Low power threshold
power1_max                High power threshold
power1_input_lowest        Historical minimum power use
power1_input_highest        Historical maximum power use
power1_reset_history        Write 1 to reset power1 history.
                        Also clears power bad fault logs.
power1_min_alarm        Low power alarm
power1_max_alarm        High power alarm
power1_label                Channel label (Power)

energy1_input                Measured energy over time (in microJoule)
energy1_enable                Enable/Disable Energy accumulation

debugfs 오류 로그와 초기화 관계

칩의 fault log 레지스터는 과거 오류 이벤트를 기록하므로 debugfs에서 접근합니다. 로그에 오류가 있어도 그 오류가 현재 계속 존재한다는 뜻은 아닙니다. 해당 sysfs `reset_history` 속성에 쓰면 연관 로그를 지울 수 있습니다.

debugfs 인터페이스는 예고 없이 바뀔 수 있으며 커널이 `CONFIG_DEBUG_FS`로 빌드된 경우에만 사용할 수 있습니다. 디렉터리는 `/sys/kernel/debug/ltc4282-hwmon[X]/`입니다.

`power1_bad_fault_log`, `in0_fet_short_fault_log`, `in0_fet_bad_fault_log`, `in1_crit_fault_log`, `in1_lcrit_fault_log`, `curr1_crit_fault_log`는 각각 전력 불량, FET 단락, FET 불량, VDD 과전압, VDD 저전압, 과전류 이벤트가 발생하면 1로 설정됩니다.

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DebugFs entries
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The chip also has a fault log register where failures can be logged. Hence,
as these are logging events, we give access to them in debugfs. Note that
even if some failure is detected in these logs, it does necessarily mean
that the failure is still present. As mentioned in the proper Sysfs entries,
these logs can be cleared by writing in the proper reset_history attribute.

.. warning:: The debugfs interface is subject to change without notice
             and is only available when the kernel is compiled with
             ``CONFIG_DEBUG_FS`` defined.

``/sys/kernel/debug/ltc4282-hwmon[X]/``
contains the following attributes:

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power1_bad_fault_log     Set to 1 by a power1 bad fault occurring.
in0_fet_short_fault_log         Set to 1 when the ADC detects a FET-short fault.
in0_fet_bad_fault_log    Set to 1 when a FET-BAD fault occurs.
in1_crit_fault_log       Set to 1 by a VDD overvoltage fault occurring.
in1_lcrit_fault_log      Set to 1 by a VDD undervoltage fault occurring.
curr1_crit_fault_log         Set to 1 by an overcurrent fault occurring.
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